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現在位置：首頁>通用分析儀器>光譜> X熒光光譜(XRF)
價 格：詢價
產 地：日本更新時間：2020-10-15 16:49
品 牌：島津型 號：mEDX-1200/1300/1400型
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過去的X射線熒光光譜儀難以高靈敏度地分析很小的樣品。對于因分辨率不足即使X射線強度足夠也難以進行的電子部件、電路板以及食品中的異物等微小局部的測定，本裝置可進行高靈敏度、高分辨率、分析直徑***小至50mm的分析。
測定原理 x射線熒光分析法 測定方法 能量散射型 測定對象 固體、液體、粉體 測定范圍 13AI ~ 92U(mEDX-1200) 11Na ~ 92U(mEDX-1300) 13AI ~ 92U(mEDX-1400) x射線管 Rh靶 檢測器 Si(Li)半導體檢測器 (mEDX-1200,1300),Si漂移半導體 檢測器(mEDX-1400) 樣品型狀 最大150mm×150mm×40mmH
XL2 尼通手持式熒光光譜儀 合金分析儀
prism激光小孔法X射線應力分析儀
檢測不銹鋼Bruker S1 TITAN手持式合金分析儀
天瑞ROHS檢測儀
ROHS鹵素一體機EDX1800E
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