日本Olympus鏡片反射率測(cè)定儀USPM-RUⅢ
價(jià) 格：詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地：日本更新時(shí)間：2020-10-29 14:46
品 牌：奧林巴斯型 號(hào)：USPM-RUⅢ
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2680
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概要
ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ是在原ＵＳＰＭ－ＲＵ儀器上開(kāi)發(fā)出的換代產(chǎn)品，是鏡片反射率測(cè)定儀的新機(jī)型。薄鏡片也不受背面反射光的影響，能實(shí)現(xiàn)高速、高精度的分光測(cè)定。
特征
消除背面反射光
采用特殊光學(xué)系，消除背面反射光。不必進(jìn)行背面的防反射處理，可正確測(cè)定表面的反射率。
可測(cè)定微小領(lǐng)域的反射率
用對(duì)物鏡對(duì)焦于被測(cè)面的微小區(qū)域(φ60μm)，可測(cè)定鏡片曲面及鍍膜層脫落。
測(cè)定時(shí)間短
使用Flat Field Grating(平面光柵)和線(xiàn)傳感器的高速分光測(cè)定，可迅速實(shí)現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測(cè)定。
ＸＹ色度圖、L*a*b*測(cè)定可能
以分光測(cè)定法為基準(zhǔn)，從分光反射率情況可測(cè)定物體顏色。
Hard Coat(高強(qiáng)度鍍膜)膜厚測(cè)定可能
用干涉光分光法，可以不接觸、不破壞地測(cè)定被測(cè)物的膜厚(單層膜)。
主要用途
各種透鏡（眼鏡透鏡、光讀取頭鏡片等）
反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測(cè)定（單層膜）
與原產(chǎn)品的主要區(qū)別
采用全新的ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ專(zhuān)用框架及設(shè)計(jì)，提高了操作性能。
受臺(tái)Ｚ方向的移動(dòng)范圍從35mm(原產(chǎn)品)擴(kuò)大到了85mm。
電源規(guī)格可對(duì)應(yīng)AC100V以及AC220V。 (請(qǐng)您在下訂單時(shí)注明電源規(guī)格。)
優(yōu)化了軟件的功能。(可顯示10次測(cè)定的功能等)
XY受臺(tái)移動(dòng)方向增加了比例尺。
更換鹵燈時(shí)不需調(diào)整燈的位置。
ＰＣ與Interface采用了ＵＳＢ式連接。
產(chǎn)品參數(shù)
| 測(cè)定波長(zhǎng) | 380nm～780nm |
| 測(cè)定方法 | 與參照試料的比較測(cè)定 |
| 被測(cè)物N.A. | 0.12(使用10×對(duì)物鏡時(shí))
0.24(使用20×對(duì)物鏡時(shí))
※與對(duì)物鏡的N.A不同 |
| 被測(cè)物W.D. | 10.1mm(使用10×對(duì)物鏡時(shí))
3.1mm(使用20×對(duì)物鏡時(shí)) |
| 被測(cè)物的曲率半徑 | -1R～-∞、+1R～∞ |
| 被測(cè)物的測(cè)定范圍 | 約φ60μm(使用10×對(duì)物鏡時(shí))
約φ30μm(使用20×對(duì)物鏡時(shí)) |
| 被測(cè)物再現(xiàn)性 | ±0.1%以下(2σ)（380nm～410nm測(cè)定時(shí)）
±0.01%以下(2σ)(410nm～700nm測(cè)定時(shí)) |
| 表示精度 | 1nm |
| 測(cè)定時(shí)間 | 數(shù)秒～十?dāng)?shù)秒(因取樣時(shí)間各異） |
| 光源規(guī)格 | 鹵燈 12V100W |
| 裝置重量 | 本體：約20kg(電腦、打印機(jī)除外)
光源用電源：約3kg、控制器：約8kg |
| 裝置尺寸 | 本體：300(W)×550(D)×570(H)mm
光源用電源：150(W)×250(D)×140(H)mm
控制器盒：220(W)×250(D)×140(H)mm |
| 電源規(guī)格 | 光源用電源：100V (2.8A)/220V AC
控制器盒：100V(0.2A)/220V AC |
| 使用環(huán)境 | 水平且無(wú)振動(dòng)的場(chǎng)所
溫度：23±5℃
濕度：60％以下、無(wú)結(jié)露 |
| 軟件 | ■測(cè)定參數(shù)設(shè)定
■分光反射率測(cè)定
■物體顏色測(cè)定
■膜厚(單層膜)測(cè)定
|
| *作為特別訂貨，可對(duì)應(yīng)測(cè)定波長(zhǎng)為440nm～840nm。 |
本裝置不保證為T(mén)raceability體系中的絕對(duì)精度。
滬公網(wǎng)安備31011502016460號(hào)
