PHL應力雙折射儀 PA-200
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-21 10:50
品 牌：其他型 號：PA-200-L
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產品介紹
PHL應力雙折射儀 PA-200
主要簡介：
PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其專利技術的光子晶體偏光陣列片，獨有的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業內，特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。
主要特點：
操作簡單，測量速度可以快到3秒。
視野范圍內可***次測量，測量范圍廣。
更直觀的全面讀取數據，無遺漏數據點。
具有多種分析功能和測量結果的比較。
維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。
高達2056x2464像素的偏振相機。
應用領域：
光學鏡片、手機鏡頭
智能手機玻璃基板
碳化硅，藍寶石等
技術參數：
| 項次 | 項目 | 具體參數 |
| 1 | 輸出項目 | 相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】 |
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| 2 | 測量波長 | 520nm |
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| 3 | 雙折射測量范圍 | 0-130nm |
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| 4 | 測量***小分辨率 | 0.001nm |
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| 5 | 測量重復精度 | <1nm（西格瑪） |
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| 6 | 視野尺寸 | 27x36mm到99x132mm（標準） |
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| 7 | 選配鏡頭視野 | 低至7x8.4（擴束鏡頭） |
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| 8 | 選配功能 | 實時解析軟件，鏡片解析軟件，數據處理軟件，實現外部控制
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滬公網安備31011502016460號
